Semiconductor process reliability in practice
Auteur :
Gan, Zhenghao / Wong, Waisum / Liou, Juin
Éditeur :
McGraw-Hill Education - Europe
ISBN :
9780071754279
Date de publication :
16 nov. 2012
Dimensions :
23,6 x 16,3 x 3,8 cm
Poids :
987 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
Filled with practical examples, this is a comprehensive reference on process reliability for semiconductor process and design engineers.