Atomic force microscopy: understanding basic modes and advanced applications
Auteur :
Haugstad, Greg
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9780470638828
Date de publication :
16 oct. 2012
Dimensions :
24,4 x 16,3 x 3,1 cm
Poids :
794 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).