Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging
Auteur :
Tan, Cher Ming
Éditeur :
Tan, Cher MingPeng, Yeng-Kaung,Mahalingam, Mali,Prasad, Krishnamachar,
ISBN :
9780819439017
Date de publication :
23 oct. 2000
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA