In-line characterization, yield, reliability, and failure analysis in microelectronic manufacturing ii
Auteur :
Weiland, Larg H.
Éditeur :
Weiland, Larg H.Kissinger, Gudrun,
ISBN :
9780819441072
Date de publication :
23 avr. 2001
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA