Surface scattering and diffraction for advanced metrology

Name: Surface scattering and diffraction for advanced metrology
Author: Gu, Zu-Han
ISBN: 9780819441614

Auteur : Gu, Zu-Han

Éditeur : Gu, Zu-HanMaradudin, Alexei A.,

ISBN : 9780819441614

Date de publication : 23 oct. 2001

Langue : Anglais

Pays d'origine : USA

155,99 €

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