Reliability, packaging, testing, and characterization of mems/moems and nanodevices x: 24-25 january 2011, san francisco, california, united states
Auteur :
Garcia-Blanco, Sonia
Éditeur :
Garcia-Blanco, Sonia
ISBN :
9780819484659
Date de publication :
15 mai 2011
Dimensions :
22,9 x 15,2 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA