X-ray free-electron lasers: beam diagnostics, beamline instrumentation, and applications : 13-16 august 2012, san diego, california, united states
Auteur :
Hau-Riege, Stefan P.
Éditeur :
Hau-Riege, Stefan P.
ISBN :
9780819492210
Date de publication :
15 nov. 2012
Dimensions :
22,9 x 15,2 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA