Optical metrology and inspection for industrial applications ii: 5-7 november 2012, beijing, china

Auteur : Yoshizawa, Toru
ISBN : 9780819493187
Date de publication : 30 avr. 2013
Langue : Anglais
Pays d'origine : USA

<em>Proceedings of SPIE</em> offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

169,99 €
Prix de vente belge indicatif
Disponibilité
Disponible sur commande

Pour commander, veuillez vous connecter à votre compte.