Mems reliability
Auteur :
Hartzell, Allyson L. / da Silva, Mark G. / Shea, Herbert R.
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9781441960177
Date de publication :
11 nov. 2010
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood.