Hierarchical modeling for vlsi circuit testing
Auteur :
Bhattacharya, Debashis
Éditeur :
Bhattacharya, DebashisHayes, John P.,
ISBN :
9781461288190
Date de publication :
26 sept. 2011
Dimensions :
23,5 x 15,5 x 1,0 cm
Poids :
278 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA