Hot-carrier reliability of mos vlsi circuits
Auteur :
Leblebici, Yusuf
Éditeur :
Leblebici, YusufKang, Sung-Mo,
ISBN :
9781461364290
Date de publication :
27 sept. 2012
Dimensions :
23,5 x 15,5 x 1,3 cm
Poids :
367 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA