High performance memory testing: design principles, fault modeling and self-test

Auteur : Adams, R. Dean
Éditeur : Adams, R. Dean
ISBN : 9781475784749
Date de publication : 26 avr. 2013
Dimensions : 23,5 x 15,5 x 1,4 cm
Poids : 409 g
Langue : Anglais
Pays d'origine : USA

229,49 €
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