Atom probe microscopy
Auteur :
Gault, Baptiste / Moody, Michael P. / Cairney, Julie M. / Ringer, Simon P.
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9781489989390
Date de publication :
11 juin 2014
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.