Cmos gate-stack scaling — materials, interfaces and reliability implications: volume 1155
Éditeur :
Materials Research Society
ISBN :
9781605111285
Date de publication :
19 nov. 2009
Dimensions :
23,6 x 16,0 x 1,4 cm
Poids :
430 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
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