Rf and microwave modeling and measurement techniques for field effect transistors
Auteur :
Gao, Jianjun
Éditeur :
Gao, Jianjun
ISBN :
9781891121890
Date de publication :
15 févr. 2010
Dimensions :
22,9 x 15,2 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA