Introduction to logic circuit testing, an
Auteur :
Lala, Parag K.
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783031797842
Date de publication :
27 oct. 2008
Dimensions :
23,5 x 19,1 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
An Introduction to Logic Circuit Testing provides a detailed coverage of techniques for test generation and testable design of digital electronic circuits/systems.