Scanning tunneling microscopy and related methods
Auteur :
Behm, R.J.
ISBN :
9789048140756
Date de publication :
7 déc. 2010
Dimensions :
23,4 x 15,6 x 2,7 cm
Poids :
743 g
Format :
Trade paperback (US)
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Bonaire, Saba
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy, Erice, Italy, April 17-29, 1989