Event-triggered active disturbance rejection control: theory and applications
Auteur :
Shi, Dawei / Huang, Yuan / Wang, Junzheng / Shi, Ling
Éditeur :
Springer Verlag, Singapore
ISBN :
9789811602955
Date de publication :
17 mars 2022
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Singapour