High resolution x-ray diffractometry and topography
Auteur :
Bowen, D.K. / Tanner, Brian K.
Éditeur :
Taylor & Francis Ltd
ISBN :
9780367400637
Date de publication :
10 oct. 2019
Dimensions :
24,6 x 17,4 cm
Poids :
490 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Grande Bretagne