Sample preparation handbook for transmission electron microscopy: methodology
Auteur :
Ayache, Jeanne / Beaunier, Luc / Boumendil, Jacqueline / Ehret, Gabrielle / Laub, Danièle
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9780387981819
Date de publication :
8 juil. 2010
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
For this reason, there has been a wealth of scienti?c literature detailing speci?c preparation steps and numerous excellent books on the preparation of b- logical thin specimens.