Applied measurement with jmetrik
Auteur :
Meyer, J. Patrick
Éditeur :
Taylor & Francis Ltd
ISBN :
9780415531955
Date de publication :
27 juin 2014
Dimensions :
22,9 x 15,2 cm
Poids :
362 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Grande Bretagne
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.