Microscopic x-ray fluorescence analysis
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9780471974260
Date de publication :
20 avr. 2000
Dimensions :
23,4 x 16,0 x 3,1 cm
Poids :
726 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
-XRF analysis is a recently developed, highly sensitive analytical technique. This topical publication provides a detailed overview of the applications of -XRF in industrial and academic circles.