Reliability, testing and characterization of mems/moems: ii

Auteur : Ramesham, Rajeshuni
Éditeur : Ramesham, RajeshuniTanner, Danelle M.,
ISBN : 9780819447807
Date de publication : 31 janv. 2003
Langue : Anglais
Pays d'origine : USA

155,99 €
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