Electron beam-specimen interactions and simulation methods in microscopy
Auteur :
Mendis, Budhika G.
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9781118456095
Date de publication :
7 mai 2018
Dimensions :
23,1 x 15,8 x 2,0 cm
Poids :
612 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA