Total-reflection x-ray fluorescence analysis and related methods

Auteur : Klockenkämper, Reinhold / von Bohlen, Alex
Éditeur : John Wiley & Sons Inc
ISBN : 9781118460276
Date de publication : 27 janv. 2015
Dimensions : 24,4 x 16,3 x 3,4 cm
Poids : 889 g
Langue : Anglais
Pays d'origine : USA

Providing an accessible introduction into the use of Total-Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis, both from a theoretical point of view and for practical applications, this new edition of Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis is completely updated and enlarged to emphasize new methods and techniques.

176,99 €
Prix de vente belge indicatif
Disponibilité
Manquant éditeur

Pour commander, veuillez vous connecter à votre compte.