Formation testing: low mobility pressure transient analysis
Auteur :
Chin, Wilson C. / Zhou, Yanmin / Feng, Yongren / Yu, Qiang
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9781118925942
Date de publication :
22 déc. 2015
Dimensions :
23,6 x 16,0 x 2,3 cm
Poids :
562 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA