Introduction to surface analysis by xps and aes, an
Auteur :
Watts, John F. / Wolstenholme, John
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9781119417583
Date de publication :
12 nov. 2019
Dimensions :
23,1 x 15,5 x 1,8 cm
Poids :
612 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA