Focused ion beam instrumentation: techniques and applications
Auteur :
Finch, Dudley / Finch, DudleyBuxbaum, Alexander,
Éditeur :
John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9781119953258
Date de publication :
10 févr. 2017
Dimensions :
24,4 x 17,0 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA