Testing complex and embedded systems
Auteur :
Pries, Kim H. / Quigley, Jon M.
Éditeur :
Taylor & Francis Inc
ISBN :
9781439821404
Date de publication :
8 déc. 2010
Dimensions :
23,4 x 15,6 cm
Poids :
589 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA