Interconnect noise optimization in nanometer technologies
Auteur :
Elgamel, Mohamed
Éditeur :
Elgamel, MohamedBayoumi, Magdy A.,
ISBN :
9781441938442
Date de publication :
12 févr. 2010
Dimensions :
23,4 x 15,6 x 0,8 cm
Poids :
254 g
Format :
Trade paperback (US)
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA