Sample preparation handbook for transmission electron microscopy: techniques
Auteur :
Ayache, Jeanne / Beaunier, Luc / Boumendil, Jacqueline / Ehret, Gabrielle / Laub, Danièle
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9781441959744
Date de publication :
22 juin 2010
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
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