High resolution focused ion beams: fib and its applications: the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused ion beam technology
Auteur :
Orloff, Jon
Éditeur :
Orloff, JonSwanson, Lynwood,Utlaut, Mark,
ISBN :
9781461352297
Date de publication :
20 sept. 2012
Dimensions :
23,4 x 15,6 x 1,7 cm
Poids :
492 g
Format :
Trade paperback (US)
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA