Spatial point patterns: methodology and applications with r

Auteur : Baddeley, Adrian / Rubak, Ege / Turner, Rolf
Éditeur : Taylor & Francis Inc
ISBN : 9781482210200
Date de publication : 24 nov. 2015
Dimensions : 25,4 x 17,8 x 2,5 cm
Poids : 1633 g
Langue : Anglais
Pays d'origine : Grande Bretagne

113,99 €
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