Atom-probe tomography: the local electrode atom probe
Auteur :
Miller, Michael K. / Forbes, Richard G.
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9781489974297
Date de publication :
2 août 2014
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.