Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Auteur :
Goldstein, Joseph I. / Newbury, Dale E. / Michael, Joseph R. / Ritchie, Nicholas W.M. / Scott, John Henry J. / Joy, David C.
Éditeur :
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN :
9781493966745
Date de publication :
18 nov. 2017
Dimensions :
27,9 x 21,0 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
USA