Nanometer-scale defect detection using polarized light
Auteur :
Dahoo, Pierre-Richard / Pougnet, Philippe / El Hami, Abdelkhalak
Éditeur :
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
ISBN :
9781848219366
Date de publication :
12 août 2016
Dimensions :
24,1 x 16,5 x 2,3 cm
Poids :
612 g
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Grande Bretagne
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.