Multi-run memory tests for pattern sensitive faults
Auteur :
Mrozek, Ireneusz
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030081980
Date de publication :
1 févr. 2019
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.