Introduction to quantum metrology: the revised si system and quantum standards
Auteur :
Nawrocki, Waldemar
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030196790
Date de publication :
14 août 2020
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book discusses the theory of quantum effects used in metrology, and presents the author’s research findings in the field of quantum electronics.