Long-term reliability of nanometer vlsi systems: modeling, analysis and optimization
Auteur :
Tan, Sheldon / Tahoori, Mehdi / Kim, Taeyoung / Wang, Shengcheng / Sun, Zeyu / Kiamehr, Saman
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030261740
Date de publication :
25 sept. 2020
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse