X-ray spectroscopy with synchrotron radiation: fundamentals and applications

Auteur : Cramer, Stephen P.
Éditeur : Springer Nature Switzerland AG
ISBN : 9783030285494
Date de publication : 20 nov. 2020
Dimensions : 23,5 x 15,5 cm
Langue : Anglais
Pays d'origine : Suisse

The second half of the book describes the important spectroscopic techniques that use synchrotron x-rays, including chapters on x-ray absorption, x-ray fluorescence, resonant and non-resonant inelastic x-ray scattering, nuclear spectroscopies, and x-ray photoemission.

206,49 €
Prix de vente belge indicatif
Disponibilité
Print on Demand

Pour commander, veuillez vous connecter à votre compte.