Advanced computing in electron microscopy
Auteur :
Kirkland, Earl J.
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030332624
Date de publication :
10 mars 2021
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images.