Mitigating process variability and soft errors at circuit-level for finfets
Auteur :
Zimpeck, Alexandra / Meinhardt, Cristina / Artola, Laurent / Reis, Ricardo
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030683672
Date de publication :
11 mars 2021
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.