Microscopic techniques for the non-expert
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783030995416
Date de publication :
28 juin 2022
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book covers fundamental microscopic techniques for Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and other microscopic tools.