Scanning ion conductance microscopy
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783031144424
Date de publication :
30 sept. 2022
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book provides a selection of recent developments in scanning ion conductance microscopy (SICM) technology and applications.