Active probe atomic force microscopy: a practical guide on precision instrumentation
Auteur :
Xia, Fangzhou / Rangelow, Ivo W. / Youcef-Toumi, Kamal
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783031442353
Date de publication :
7 févr. 2025
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).