Recent advances in logo detection using machine learning paradigms: theory and practice
Auteur :
Chen, Yen-Wei / Ruan, Xiang / Jain, Rahul Kumar
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783031598104
Date de publication :
31 mai 2024
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse