Reliability and yield in nanoelectronics manufacturing
Auteur :
Chien, Wei-Ting Kary / Kuo, Way
Éditeur :
Springer Nature Switzerland AG
ISBN :
9783032231895
Date de publication :
15 juil. 2026
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse