Introduction to quantum metrology: quantum standards and instrumentation
Auteur :
Nawrocki, Waldemar
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783319384795
Date de publication :
9 oct. 2016
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book presents the theory of quantum effects used in metrology and results of the author’s own research in the field of quantum electronics.