Soft error mechanisms, modeling and mitigation
Auteur :
Sayil, Selahattin
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783319808482
Date de publication :
15 juin 2018
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects.