Common diagnostic pitfalls in thyroid cytopathology
Auteur :
Adeniran, Adebowale J. / Chhieng, David
Éditeur :
Springer International Publishing AG
ISBN :
9783319810768
Date de publication :
30 mai 2018
Dimensions :
23,5 x 15,5 cm
Langue :
Anglais
Pays d'origine :
Suisse
This text provides a comprehensive review of the most frequently encountered diagnostic pitfalls in thyroid cytopathology.